DHT系列低溫試驗(yàn)箱

　　多禾試驗(yàn)DHT®歐洲研發(fā)中心推出DHT系列低溫試驗(yàn)箱，緊湊的設(shè)計(jì)，特別適合實(shí)驗(yàn)室，高校，研究所的低溫試驗(yàn)場所。DHT系列低溫試驗(yàn)箱運(yùn)用DHSPLCON技術(shù)將高低溫試驗(yàn)箱使用壽命大大延長。多禾試驗(yàn)，成型于歐洲，產(chǎn)銷于國內(nèi)，對標(biāo)德國品質(zhì)，價(jià)格親民。DHT系列試驗(yàn)箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗(yàn)樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗(yàn)+濕度環(huán)境。適用于各類高校，專業(yè)實(shí)驗(yàn)室研究開發(fā)及對空間要求較高環(huán)境使用。DHT系列試驗(yàn)箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗(yàn)樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗(yàn)環(huán)境，以便在相應(yīng)環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲存后對產(chǎn)品性能做出分析及評價(jià)。

　　DHT®低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品優(yōu)勢
　　全新國際設(shè)計(jì)理念，國家專利產(chǎn)品
　　雙層真空大視窗設(shè)計(jì)，安全防霧，同時(shí)配備飛利浦高亮度照明
　　操作方便：采用彩色液晶觸摸屏，設(shè)定、顯示各種運(yùn)行數(shù)，同時(shí)控制器位置可隨時(shí)根據(jù)實(shí)際情況上下調(diào)節(jié)，增強(qiáng)使用者舒適度體驗(yàn)。
　　記錄量大：實(shí)時(shí)記錄大量采樣數(shù)據(jù)，并可實(shí)現(xiàn)在 PC機(jī)上打印曲線。
　　高可靠性：為提高整機(jī)的可靠性，主要部件經(jīng)嚴(yán)格考核，全部由各知名專業(yè)廠商提供。
　　安全保護(hù)：溫度過升保護(hù)，試品保護(hù)，設(shè)備自身保護(hù)，操作人員安全保護(hù)等，全方位安全考慮。
　　引進(jìn)德國技術(shù)，意大利先進(jìn)控制系統(tǒng)，性能穩(wěn)定
　　可非標(biāo)定制
　　升降溫特性

 　　DHT®低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
　　GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)
　　GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫    IEC 60068-2-1:2007
　　GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫   IEC 60068-2-2:2007
　　GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化IEC 60068-2-14
　　GJB150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分: 高溫試驗(yàn)
　　GJB150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分: 低溫試驗(yàn)

 
　　DHT®低溫試驗(yàn)箱配件清單
　　使用環(huán)境溫度：+5～+35℃ (降溫保障+5～+28℃)
　　安全配置：漏電保護(hù)、短路保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、超溫保護(hù)、相序/缺相保護(hù)
 

　　附件標(biāo)準(zhǔn)配置：
　　照明燈*1
　　直徑50mm引線孔*2；硅膠塞*2
　　AISI304樣品架：2個(gè)（100L-1000L）
　　通訊方式： USB（標(biāo)配）
　　可調(diào)節(jié)腳輪：4只

　　DHT®低溫試驗(yàn)箱選配清單
　　以太網(wǎng)/ /CF/SD存儲卡（選配）
　　RS485/232（選配）