環(huán)境可靠性試驗(yàn)所涉足的行業(yè)越來(lái)越多，除了車企、航空航天、各類材料等行業(yè)，今天要說(shuō)的路由器行業(yè)所用到的環(huán)境可靠性試驗(yàn)也非常廣泛。要在惡劣的工作環(huán)境中，長(zhǎng)時(shí)間不間斷的工作，這對(duì)于無(wú)線路由器來(lái)說(shuō)無(wú)疑是一個(gè)考驗(yàn)。尤其是在高溫環(huán)境下，無(wú)線路由器內(nèi)部的電子元器件長(zhǎng)時(shí)間工作比較容易出現(xiàn)問(wèn)題。這樣一來(lái)，無(wú)線路由器就很容易出現(xiàn)掉線、斷網(wǎng)、卡頓等問(wèn)題，嚴(yán)重影響用戶在使用無(wú)線網(wǎng)絡(luò)時(shí)的使用體驗(yàn)。如果這種情況時(shí)常出現(xiàn)在功能豐富的智能路由器身上，那么多強(qiáng)的功能都沒有用武之地，畢竟無(wú)線路由器穩(wěn)定才是最重要的功能。
 
路由器環(huán)境測(cè)試包括：低溫、高溫高濕、低溫存儲(chǔ)、高溫存儲(chǔ)測(cè)試
 
路由器環(huán)境可靠性試驗(yàn)要求：
1.對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱的要求參見GB/T2423.3－93第三章。
2.對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)檢定用主要儀器及要求參見GB/T5170.2-96 第四章。
3.受檢設(shè)備的外觀和安全要求參見GB/T5170.1-95 第八章，廣告媒體。
4.在升降溫度過(guò)程中，環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)溫度變化速率不大于1℃/分鐘（不超過(guò)5分鐘時(shí)間的平均值）。
 
低溫測(cè)試要求溫度:0℃;
高溫測(cè)試要求溫度:40℃、濕度85％-90％;
被測(cè)設(shè)備加電2小時(shí)，被測(cè)設(shè)備恢復(fù)后工作正常。
 
高、低溫存儲(chǔ)測(cè)試要求：
在低溫-40℃、高溫55℃，存儲(chǔ)時(shí)間48小時(shí)后，恢復(fù)后設(shè)備工作正常。
如果需要，可通過(guò)試驗(yàn)確定環(huán)境試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求。將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的環(huán)境試驗(yàn)箱中，然后給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時(shí))處于運(yùn)行狀態(tài)。
 
電子元器件在運(yùn)行過(guò)程中必然要散發(fā)出熱量，如果這些熱量不能被迅速疏導(dǎo)至機(jī)體外，很容易造成無(wú)線路由器運(yùn)行的不穩(wěn)定。通過(guò)環(huán)境可靠性試驗(yàn)的環(huán)境模擬，路由器才能體現(xiàn)了自己強(qiáng)大的“內(nèi)功”。這樣才能打破以往我們對(duì)智能路由器的固有印象就是使用不穩(wěn)定，這些問(wèn)題通過(guò)環(huán)境可靠性試驗(yàn)被各大廠商攻破。穩(wěn)定、功能多、簡(jiǎn)單，智能路由器將會(huì)受到越來(lái)越多消費(fèi)者的青睞。